設(shè)備有限公司.png)
產(chǎn)品中心
-
高低溫試驗(yàn)箱
-
鋰電池防爆試驗(yàn)箱
-
恒溫恒濕試驗(yàn)箱
-
液態(tài)沖擊試驗(yàn)箱
-
冷熱沖擊試驗(yàn)箱（二箱式）
-
冷熱沖擊試驗(yàn)箱（三箱式）
-
快速溫變?cè)囼?yàn)箱
-
太陽(yáng)輻射試驗(yàn)箱
-
高低溫/低氣壓試驗(yàn)箱
-
步入式高低溫濕熱試驗(yàn)室
-
三綜合試驗(yàn)箱
-
積冰凍雨試驗(yàn)箱
-
防水試驗(yàn)箱測(cè)試系列
-
防塵試驗(yàn)箱測(cè)試系列
-
高溫試驗(yàn)箱
-
霉菌試驗(yàn)箱
-
鹽霧試驗(yàn)箱
-
高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)
-
自然對(duì)流試驗(yàn)箱
-
電磁式振動(dòng)試驗(yàn)系統(tǒng)
-
可靠性壽命檢測(cè)儀器
-
萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)
-
離子遷移特性評(píng)價(jià)系統(tǒng)
LED高溫老化試驗(yàn)箱的機(jī)理
日期：2025-11-11 12:55
瀏覽次數(shù)：1311
摘要：
高溫老化試驗(yàn)箱在LED行業(yè)又叫LED高溫老化試驗(yàn)箱。適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元?dú)饧诟叩蜏鼗驖駸岘h(huán)境下、檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。
???高溫老化試驗(yàn)箱又叫精密烤箱，高溫老化試驗(yàn)箱原理及作用：該系列產(chǎn)品適用于電氣絕緣材料的耐熱性試驗(yàn)，電子零配件、塑化產(chǎn)品之換氣老化試驗(yàn)。考核和判斷其在高溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性，試樣在模擬高溫和大氣壓力下的空氣中老化后測(cè)定其性能并與未老化樣的性能予以比較。
???高溫老化試驗(yàn)箱*常見(jiàn)的是高溫?fù)Q氣老化試驗(yàn)箱,顧名思義，是以換氣的方式(即底部進(jìn)氣、頂部出氣)，用新進(jìn)來(lái)的空氣氧化產(chǎn)品，從而達(dá)到換氣老化的實(shí)驗(yàn)效果。
高溫老化試驗(yàn)箱的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)：設(shè)備突破了國(guó)內(nèi)現(xiàn)有產(chǎn)品的設(shè)計(jì)思路，具有漂亮的外觀，理想的拼裝方式，緊湊的箱體結(jié)構(gòu)，安裝使用極為方便。外表美觀，實(shí)用大方，操作簡(jiǎn)便，工作室后部備有鼓風(fēng)風(fēng)道，內(nèi)安裝有加熱器等部件，配有一對(duì)鼓風(fēng)系統(tǒng)，使風(fēng)道內(nèi)冷熱空氣吹入工作室中，以保證工作室溫度要求。采用超細(xì)玻璃保溫棉，兩道耐高溫硅橡膠密封條進(jìn)行密封，進(jìn)品風(fēng)機(jī)等性能佳的配件保證產(chǎn)品質(zhì)量及使用壽命。
???高溫老化的機(jī)理電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時(shí)，因設(shè)計(jì)不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問(wèn)題有兩類，**類是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達(dá)標(biāo)，生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求；**類是潛在的缺陷，這類缺陷不能用一般的測(cè)試手段發(fā)現(xiàn)，而需要在使用過(guò)程中逐漸地被暴露，如硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配**等等。
???一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運(yùn)行一千個(gè)小時(shí)左右才能全部被激活（暴露）。顯然，對(duì)每只元器件測(cè)試一千個(gè)小時(shí)是不現(xiàn)實(shí)的，所以需要對(duì)其施加熱應(yīng)力和偏壓，例如進(jìn)行高溫功率應(yīng)力試驗(yàn)，來(lái)加速這類缺陷的提早暴露。也就是給電子產(chǎn)品施加熱的、電的、機(jī)械的或多種綜合的外部應(yīng)力，模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境，消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì)，使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn)，盡快使產(chǎn)品通過(guò)失效浴盆特性初期階段，進(jìn)入高可的穩(wěn)定期。
???高溫老化試驗(yàn)箱又叫精密烤箱，高溫老化試驗(yàn)箱原理及作用：該系列產(chǎn)品適用于電氣絕緣材料的耐熱性試驗(yàn)，電子零配件、塑化產(chǎn)品之換氣老化試驗(yàn)。考核和判斷其在高溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性，試樣在模擬高溫和大氣壓力下的空氣中老化后測(cè)定其性能并與未老化樣的性能予以比較。
???高溫老化試驗(yàn)箱*常見(jiàn)的是高溫?fù)Q氣老化試驗(yàn)箱,顧名思義，是以換氣的方式(即底部進(jìn)氣、頂部出氣)，用新進(jìn)來(lái)的空氣氧化產(chǎn)品，從而達(dá)到換氣老化的實(shí)驗(yàn)效果。
高溫老化試驗(yàn)箱的結(jié)構(gòu)特點(diǎn)：設(shè)備突破了國(guó)內(nèi)現(xiàn)有產(chǎn)品的設(shè)計(jì)思路，具有漂亮的外觀，理想的拼裝方式，緊湊的箱體結(jié)構(gòu)，安裝使用極為方便。外表美觀，實(shí)用大方，操作簡(jiǎn)便，工作室后部備有鼓風(fēng)風(fēng)道，內(nèi)安裝有加熱器等部件，配有一對(duì)鼓風(fēng)系統(tǒng)，使風(fēng)道內(nèi)冷熱空氣吹入工作室中，以保證工作室溫度要求。采用超細(xì)玻璃保溫棉，兩道耐高溫硅橡膠密封條進(jìn)行密封，進(jìn)品風(fēng)機(jī)等性能佳的配件保證產(chǎn)品質(zhì)量及使用壽命。
???高溫老化的機(jī)理電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時(shí)，因設(shè)計(jì)不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問(wèn)題有兩類，**類是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達(dá)標(biāo)，生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求；**類是潛在的缺陷，這類缺陷不能用一般的測(cè)試手段發(fā)現(xiàn)，而需要在使用過(guò)程中逐漸地被暴露，如硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配**等等。
???一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運(yùn)行一千個(gè)小時(shí)左右才能全部被激活（暴露）。顯然，對(duì)每只元器件測(cè)試一千個(gè)小時(shí)是不現(xiàn)實(shí)的，所以需要對(duì)其施加熱應(yīng)力和偏壓，例如進(jìn)行高溫功率應(yīng)力試驗(yàn)，來(lái)加速這類缺陷的提早暴露。也就是給電子產(chǎn)品施加熱的、電的、機(jī)械的或多種綜合的外部應(yīng)力，模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境，消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì)，使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn)，盡快使產(chǎn)品通過(guò)失效浴盆特性初期階段，進(jìn)入高可的穩(wěn)定期。